OBERFLAECHENANALYSE AN DUENNEN SCHICHTEN-EINE UEBERSICHT. II = ANALYSE DE SURFACE DE COUCHES MINCES. IIPOLASCHEGG HD.1979; VAKUUM-TECH.; DEU; DA. 1979; VOL. 28; NO 1; PP. 12-17; ABS. ENG/FRE; BIBL. 11 REF.Article

OPTIMIZATION OF THE PARAMETERS OF THE IDEAL 180^O SPHERICAL ANALYZER.POLASCHEGG HD.1976; APPL. PHYS.; GERM.; DA. 1976; VOL. 9; NO 3; PP. 223-227; BIBL. 12 REF.Article

CALIBRATION OF A JUMPING BEAM EVAPORATOR BY QUANTITATIVE ESCA MEASUREMENTS.POLASCHEGG HD; SNAITH JC.1976; J. MICR. SPECTROSC. ELECTRON.; FR.; DA. 1976; VOL. 1; NO 1; PP. 53-62; BIBL. 13 REF.Article

EINE SCHLEUSE ZUM EINBRINGEN FESTER PROBEN IN EINEN REZIPIENTEN BEI ULTRAHOCHVAKUUM-BEDINGUNGEN. = UN SAS POUR INTRODUIRE DES ECHANTILLONS SOLIDES DANS UNE ENCEINTE SOUS ULTRAVIDEPOLASCHEGG HD; SCHIRK E.1975; VAKUUM-TECH.; DTSCH.; DA. 1975; VOL. 24; NO 5; PP. 136-138; ABS. ANGL. FRArticle

DER EINFLUSS VON MATRIX-EFFEKTEN AUF DIE QUANTITATIVE ANALYSE DURCH ESCA-MESSUNGEN = L'INFLUENCE DES EFFETS MATRICIELS SUR L'ANALYSE QUANTITATIVE PAR SPECTROMETRIE DE PHOTOELECTRONS PAR RAYONS XFREUND HJ; GONSKA H; POLASCHEGG HD et al.1979; VAKUUM-TECH.; DEU; DA. 1979; VOL. 28; NO 7; PP. 200-203; ABS. ENG/FRE; BIBL. 7 REF.Article

EINE HOCHDRUCKPRAEPARATIONSSCHELEUSE FUER OBERFLAECHENUNTERSUCHUNGEN = UN SAS DE PREPARATION A HAUTE PRESSION POUR L'ANALYSE DE SURFACESPOLASCHEGG HD; JUNGEL A; SCHIRK E et al.1979; VAKUUM-TECH.; DEU; DA. 1979; VOL. 28; NO 8; PP. 227-230; ABS. ENG/FRE; BIBL. 2 REF.Article

XPS AND AES STUDIES OF ANODIC PASSIVE FILMS GROWN ON CHROMIUM ELECTRODES IN SULPHURIC ACID BATHS.BOUYSSOUX G; ROMAND M; POLASCHEGG HD et al.1977; J. ELECTRON SPECTROSC. RELAT. PHENOMENA; NETHERL.; DA. 1977; VOL. 11; NO 2; PP. 185-196; BIBL. 42 REF.Article

DESIGN CONCEPT FOR A NEW ESCA INSTRUMENTBANK W; BARZ A; KOCIAN P et al.1972; VACUUM; G.B.; DA. 1972; VOL. 22; NO 10; PP. 497-498; BIBL. 2 REF.Serial Issue